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二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置

发明专利null
  • 申请号:
    CN200510020375.5
  • IPC分类号:G01B11/16
  • 申请日期:
    2005-02-06
  • 申请人:
    重庆大学
著录项信息
专利名称二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置
申请号CN200510020375.5申请日期2005-02-06
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2005-08-10公开/公告号CN1651855
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/16IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人重庆大学申请人地址
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权利人重庆亚派桥梁工程质量检测有限公司当前权利人重庆亚派桥梁工程质量检测有限公司
发明人朱永;陈伟民;符欲梅
代理机构重庆华科专利事务所代理人康海燕
摘要
一种二维大量程激光位移/挠度测量装置及测量方法,其装置包括激光发射部分和二维激光光斑接收测量部分;激光发射部分由激光器和安装支架组成,激光器安装支架为一个可变阻尼铰链结构;二维激光光斑接收测量部分由接收屏幕、摄像机、发光或不发光标记组成。其测量方法是:通过控制可控阻尼铰链结构使反映被测结构位置的激光光束水平射到光斑接收测量部分上,形成光斑,经过摄像机对光斑和标记成像,再计算激光光斑像的重心位置和发光二极管像的相对距离,获得目前光斑的坐标,把坐标减去初始值,即获得现在光斑的位移值,得出被测结构的二维位移。本装置和方法可以实现大量程、二维测量,具有恒定的分辨力,不受被测机构转动影响,环境适应性能强。

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