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一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110525137.9
  • IPC分类号:G01J5/00
  • 申请日期:
    2021-05-13
  • 申请人:
    上海航天测控通信研究所
著录项信息
专利名称一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置
申请号CN202110525137.9申请日期2021-05-13
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-06公开/公告号CN113218510A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J5/00IPC分类号G;0;1;J;5;/;0;0查看分类表>
申请人上海航天测控通信研究所申请人地址
上海市闵行区中春路1777号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海航天测控通信研究所当前权利人上海航天测控通信研究所
发明人刘瑞;吕利清;赵锋;栾英宏;李宁杰
代理机构上海汉声知识产权代理有限公司代理人胡晶
摘要
本发明提供了一种星载一维综合孔径辐射计的馈源口面外定标装置,包括:多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、功率及信号传输组件、控制配电模块、数据采集处理模块、支撑结构;多频段馈源及接收机阵列排布在支撑结构上,驱动机构安装在支撑结构上;高温定标源、低温定标源与驱动机构连接;功率及信号传输组件的第一端与数据采集处理模块电连接,第二端分别与高温定标源、低温定标源、驱动机构电连接;控制配电模块与多频段馈源及接收机阵列、高温定标源、低温定标源、驱动机构、数据采集处理模块电连接;数据采集处理模块与多频段馈源及接收机阵列电连接。本发明结构简单、易于实现,有效提高了辐射计的系统定标精度。

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