二次电池电芯的失效分析方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201710932492.1
IPC分类号：G01D21/02
申请日期：
2017-10-10
申请人：
中国科学院物理研究所

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著录项信息

专利名称	二次电池电芯的失效分析方法
申请号	CN201710932492.1	申请日期	2017-10-10
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-04-19	公开/公告号	CN109655098A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D21/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D21/00 未列入其他类目的测量或测试 G01D21/02 用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量	IPC分类号	G;0;1;D;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院物理研究所	申请人地址	北京市海淀区中关村南三街8号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院物理研究所	当前权利人	中国科学院物理研究所
发明人	张杰男;王其钰;郑杰允;禹习谦;李泓
代理机构	北京市正见永申律师事务所	代理人	黄小临;冯玉清

摘要

本申请涉及二次电池电芯的失效分析方法。根据一实施例，一种二次电池电芯的失效分析方法包括：获取失效电芯的失效背景信息；对所述失效电芯进行外观检查以获取其外观信息；对所述失效电芯进行无损检测以获取其电化学信息和结构信息；对所述失效电芯进行拆解，并且记录拆解过程；对拆解后获得的所述失效电芯的内部元件进行预处理和取样；以及对所述内部元件的样品进行测试，并且将测试结果与参考电芯的测试结果相比较，以确定关于失效原因的初步结论。利用本发明的方法，能够系统全面地了解二次电池电芯的失效原因和机理，提高失效分析人员的效率和水平，同时积累失效分析数据库，对本行业的长远发展提供帮助。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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