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一种原位应力检测装置及检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510593984.3
  • IPC分类号:G01L1/24
  • 申请日期:
    2015-09-17
  • 申请人:
    华东理工大学
著录项信息
专利名称一种原位应力检测装置及检测方法
申请号CN201510593984.3申请日期2015-09-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-04-13公开/公告号CN105486437A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01L1/24IPC分类号G;0;1;L;1;/;2;4查看分类表>
申请人华东理工大学申请人地址
上海市徐汇区梅陇路130号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华东理工大学当前权利人华东理工大学
发明人于新海;明小祥;唐佳丽;徐小五;涂善东
代理机构上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙)代理人章鸣玉;任艳霞
摘要
本发明涉及半导体检测领域,尤其涉及一种原位应力检测装置及其检测方法,通过在一键合装置上盖设置一透明凹槽观察视窗,就可以对键合过程中硅片界面的应力状态进行实时监控,从而研究应力产生的原因,应力与阳极键合条件(温度、压力、通电时间)之间的关系,为控制阳极键合过程中硅片的应力提供指导,从而提高键合结构的结构完整性。同时,应用原位激光拉曼光谱研究硅‑玻璃阳极键合的应力也是一种全新的方法。

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