基于少量空间点的莫尔条纹高倍细分方法及设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201210178439.4
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2012-06-01
申请人：
沈阳工业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于少量空间点的莫尔条纹高倍细分方法及设备
申请号	CN201210178439.4	申请日期	2012-06-01
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-09-19	公开/公告号	CN102679888A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	沈阳工业大学	申请人地址	辽宁省沈阳市经济技术开发区沈辽西路111号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	沈阳工业大学	当前权利人	沈阳工业大学
发明人	常丽
代理机构	沈阳智龙专利事务所（普通合伙）	代理人	宋铁军;周智博

摘要

本发明公开了一种基于少量空间点的莫尔条纹高倍细分新方法，可以应用在大量程位移快速精密测量、定位与控制中。在某一时刻利用光栅传感器输出的四路空间信号确定光栅的位置，两次相邻时刻的位置差累加获得总位移。采用高精度高速度数据采集系统和空间少量点细分算法获得高分辨力的高倍细分。该方法充分利用空间莫尔条纹周期性、正弦性的特点，并采用FPGA实现算法，具有运算量小、速度快、细分数高等特点，可解决光栅大量程精密位移测控中高分辨力、高速度、大量程之间的矛盾问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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