一种基于核估计的集成电路成品率测定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410017276.7
IPC分类号：--
申请日期：
2004-03-25
申请人：
杭州电子工业学院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于核估计的集成电路成品率测定方法
申请号	CN200410017276.7	申请日期	2004-03-25
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2005-01-12	公开/公告号	CN1563966
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	杭州电子工业学院	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州电子工业学院	当前权利人	杭州电子工业学院
发明人	孙玲玲;周磊;刘军
代理机构	杭州九洲专利事务所有限公司	代理人	陈继亮

摘要

本发明涉及一种基于核估计的集成电路成品率测定方法，利用基于非参数统计的成品率分析方法找出成品率对应的边界，将所有参数样本点划分成两部分，其中一部分为闭合区域内部的点，在基于非参数统计的成品率分析测定方法中假定这些点为全部为合格点，相应的，另一部分为闭合区域外部的点，我们假定这些点全部为不合格点。利用密度估计方法在所有合格点中寻找与所有不合格点的概率密度，即计算合格点中的某一点在不合格点中的密度，最小的点作为的优化参数点。本发明优点是得出的设计参数值作为设计参数不仅可以使设计具有较高的成品率，而且它使得各个参数具有较大的容差，从而可使电路具有较好稳定性。

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