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用于形成薄膜晶体管液晶显示装置中的电路的蚀刻剂组合物

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200810168643.1
  • IPC分类号:C23F1/16
  • 申请日期:
    2008-09-17
  • 申请人:
    株式会社东进世美肯
著录项信息
专利名称用于形成薄膜晶体管液晶显示装置中的电路的蚀刻剂组合物
申请号CN200810168643.1申请日期2008-09-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-03-25公开/公告号CN101392375
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23F1/16IPC分类号C;2;3;F;1;/;1;6查看分类表>
申请人株式会社东进世美肯申请人地址
韩国仁川广域市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社东进世美肯当前权利人株式会社东进世美肯
发明人金南绪;姜东浒;李骐范;曺三永
代理机构北京银龙知识产权代理有限公司代理人钟晶
摘要
提供了一种用于蚀刻形成薄膜晶体管-液晶显示装置(TFT-LCD)电极的金属层的蚀刻剂组合物。所述蚀刻剂组合物基于其总重量包含:55-75wt%的磷酸、0.75-1.99wt%的硝酸、10-20wt%的醋酸、0.05-0.5wt%的Mo蚀刻控制剂、0.02-3wt%的含硼化合物和余量的水。TFT-LCD用蚀刻剂组合物适合于单步法湿式蚀刻用于形成栅极、源极和漏极的Mo/AlNd双层或Mo/Al/Mo三层,而没有AlNd、Al和Mo的突出和底切,并且提供优异的锥形蚀刻剖面。另外,由于不使用干式蚀刻工艺,制造过程得到简化,产率得到提高,生产成本下降。进一步地,即使不使用诸如高氯酸盐的非环境友好型材料、导致蚀刻剂组合物使用寿命缩短的不稳定组分或侵蚀作为基板的玻璃的氟基化合物,也能够通过仅一次湿式蚀刻Mo/AlNd双层或Mo/Al/Mo三层而得到优异的锥形剖面。

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