发光二极管阵列检测治具

发明专利无效专利

申请号：
CN201010549052.6
IPC分类号：G01R31/44
申请日期：
2010-11-18
申请人：
亚旭电脑股份有限公司;亚旭电子科技（江苏）有限公司

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著录项信息

专利名称	发光二极管阵列检测治具
申请号	CN201010549052.6	申请日期	2010-11-18
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-23	公开/公告号	CN102466787A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/38 （转入H01T 13/60） G01R31/44 采用核磁共振〔NMR〕（G01R33/24，G01R33/62优先）〔5〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;4;4查看分类表>
申请人	亚旭电脑股份有限公司;亚旭电子科技（江苏）有限公司	申请人地址	中国台湾台北县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	亚旭电脑股份有限公司,亚旭电子科技（江苏）有限公司	当前权利人	亚旭电脑股份有限公司,亚旭电子科技（江苏）有限公司
发明人	单仕良;朱小波;谢青峰
代理机构	北京戈程知识产权代理有限公司	代理人	程伟;张硕

摘要

一种发光二极管阵列检测治具，用以通过电源供应单元对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测，其至少包括：检测座，具有一测试台及立设于该测试台且对应各发光二极管的正负极接脚端的多对正负极探针，各该探针分别电性连接该电源供应单元以形成供电回路；载板，设于该检测座上并可相对该测试台活动升降，该载板具有供放置该待测电路板的定位部、及对应各探针的多个通孔；及压制件，设于该检测座上，用以压制该待测电路板，并驱动该载板下降，令各该对正负极探针通过通孔而接触导通对应的各该正负极接脚端，以通过各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路使各该发光二极管获得供电而点亮。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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