避免EBSD测试样品表面再次抛光的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201710313852.X
IPC分类号：G01N1/32;G01N23/20
申请日期：
2017-05-05
申请人：
北京工业大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	避免EBSD测试样品表面再次抛光的方法
申请号	CN201710313852.X	申请日期	2017-05-05
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-08-04	公开/公告号	CN107014662A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/32 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20） G01N1/32 抛光；腐蚀	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;3;2;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	汉晶;郭福;刘建萍
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	张立改

摘要

避免EBSD测试样品表面再次抛光的方法，属于样品制备领域。EBSD测试前，通过EBSD对样品的晶体取向进行观察；将样品封存于真空的玻璃管中或放置于含有干燥剂的密封的玻璃器皿中；一起置于力学、热学以及电学的测试环境中，进行测试；将测试完的样品从真空的玻璃管或含有干燥剂的密封的玻璃器皿中取出来进行EBSD测试，分析样品的晶体取向信息。该方法可以有效避免样品的再次抛光，确保实验结果和结论的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供