一种器件的检查方法、装置、设备及存储介质

发明专利无效专利

申请号：
CN201710475108.X
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/70;G06F17/50
申请日期：
2017-06-21
申请人：
广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨自动控制科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种器件的检查方法、装置、设备及存储介质
申请号	CN201710475108.X	申请日期	2017-06-21
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-11-07	公开/公告号	CN107330879A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;7;0;;;G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨自动控制科技有限公司	申请人地址	广东省广州市黄埔区云埔工业园云埔四路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州视源电子科技股份有限公司,广州镭晨自动控制科技有限公司	当前权利人	广州视源电子科技股份有限公司,广州镭晨自动控制科技有限公司
发明人	刘柏芳
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆

摘要

本发明公开了一种器件的检查方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待检测板卡设计时器件的坐标文件，从所述坐标文件读取待检测的器件的坐标信息；根据所述坐标信息比对待检测的器件和待检测板卡的板卡图片中已标记的器件；在所述板卡图片中标记出未标记的待检测的器件，通过本发明的技术方案，避免由于人工框选待检测元件导致器件漏检的情况，能够实现对漏检的器件进行检查。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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