基于面元分布的动态匹配反射系数缩比测量方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110325787.9
IPC分类号：G01S7/41
申请日期：
2021-03-26
申请人：
中国人民解放军国防科技大学

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著录项信息

专利名称	基于面元分布的动态匹配反射系数缩比测量方法和装置
申请号	CN202110325787.9	申请日期	2021-03-26
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-25	公开/公告号	CN113030900A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S7/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S7/00 与G01S 13/00，G01S 15/00，G01S 17/00各组相关的系统的零部件 G01S7/02 与G01S 13/00组相应的系统的 G01S7/41 使用考虑到目标特性的回波信号的分析；目标形状的；目标截面的〔6〕	IPC分类号	G;0;1;S;7;/;4;1查看分类表>
申请人	中国人民解放军国防科技大学	申请人地址	湖南省长沙市开福区德雅路109号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军国防科技大学	当前权利人	中国人民解放军国防科技大学
发明人	曾旸;逢爽;杨琪;邓彬;王宏强
代理机构	长沙国科天河知识产权代理有限公司	代理人	邱轶

摘要

本申请涉及一种基于面元分布的动态匹配反射系数缩比测量方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过获取金属缩比模型的金属缩比模型RCS测量值和涂覆缩比模型的涂覆缩比模型RCS测量值，根据金属缩比模型RCS测量值、涂覆缩比模型RCS测量值，以及涂覆缩比模型的涂覆材料的第一反射系数信息，得到金属缩比模型在入射波角度下的RCS面元分布信息；获取目标原型涂覆材料的第二反射系数信息，根据第二反射系数信息、面元分布信息和预设的几何缩比因子，得到目标原型的RCS值。本发明有利于提高反演精度，扩大了缩比测量的适用范围，为太赫兹频段缩比测量的材料色散问题提供了有效的解决方法。

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