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一种基于冷等离子体射流的质谱离子化方法及离子源装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310520005.2
  • IPC分类号:H01J49/10;H01J49/14;G01N27/68
  • 申请日期:
    2013-10-29
  • 申请人:
    清华大学
著录项信息
专利名称一种基于冷等离子体射流的质谱离子化方法及离子源装置
申请号CN201310520005.2申请日期2013-10-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-01-29公开/公告号CN103545165A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J49/10IPC分类号H;0;1;J;4;9;/;1;0;;;H;0;1;J;4;9;/;1;4;;;G;0;1;N;2;7;/;6;8查看分类表>
申请人清华大学申请人地址
北京市海淀区信箱82分箱清华大学专利办公室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人清华大学当前权利人清华大学
发明人唐飞;郭成安;王晓浩
代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司代理人邸更岩
摘要
一种基于冷等离子体射流的质谱离子化方法及离子源装置,属于质谱分析技术领域。本发明使用铜管、不锈钢管等导电金属管或者外表面敷有放电电极的石英管作为放电腔,使用高压电源作为放电电源;在放电腔进气口通入放电气体,调节气体流量,在出气口可产生稳定的冷等离子体射流;此射流可使样品离子化,进而实现离子检测。此技术可采用样品气和放电气体混合(当样品为气体或易挥发性物质时)以及射流直喷样品两种方式使样品发生离子化。本发明还涉及到相应的离子源装置,此装置可在敞开式环境中应用,具有搭建方便、体积小、价格低廉、低能耗等优点。

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