一种点扫描三维形貌测量系统标定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210397809.3
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2012-10-18
申请人：
北京航空航天大学

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专利名称	一种点扫描三维形貌测量系统标定方法
申请号	CN201210397809.3	申请日期	2012-10-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-27	公开/公告号	CN102944188A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	李旭东;赵慧洁;边赟;李成杰;姜宏志
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华

摘要

一种点扫描三维形貌测量系统标定方法，它有三大步骤：首先建立测量系统模型，确定待标定参数；然后利用精密位移台、精密转台和标准平面靶标作为标定装置，调整其相互位置与姿态满足标定要求，通过精密位移台和转台带动标准平面靶标的移动和转动获得各方向的标定数据；最后，通过最大似然估计的方法求解待标定参数，确定系统模型，实现系统精确标定。本发明在光电测量领域里具有较好的实用价值和广阔地应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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