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一种离面检测陀螺仪

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110697584.2
  • IPC分类号:G01C19/5656
  • 申请日期:
    2021-06-23
  • 申请人:
    美新半导体(天津)有限公司
著录项信息
专利名称一种离面检测陀螺仪
申请号CN202110697584.2申请日期2021-06-23
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-10公开/公告号CN113375653A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C19/5656IPC分类号G;0;1;C;1;9;/;5;6;5;6查看分类表>
申请人美新半导体(天津)有限公司申请人地址
天津市自贸试验区(空港经济区)西三道158号金融中心4-501室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人美新半导体(天津)有限公司当前权利人美新半导体(天津)有限公司
发明人丁希聪;凌方舟;蒋乐跃;金羊华
代理机构苏州简理知识产权代理有限公司代理人庞聪雅
摘要
本发明提供一种离面检测陀螺仪,其包括:左框架结构,其位于中心点A左侧,其内定义有第一空间,其能够沿X轴进行谐振运动;右框架结构,其位于中心点A右侧,其内定义有第二空间,其能够沿X轴进行与左框架结构反向的谐振运动;左移动质量块,其位于左框架结构的第一空间,其通过第一倾斜挠性梁与左框架结构相连;左敏感质量块,其位于左框架结构的第一空间,其通过第一敏感挠性梁与左移动质量块相连;右移动质量块,其位于右框架结构的第二空间,其通过倾斜挠性梁与右框架结构相连;右敏感质量块,其位于右框架结构的第二空间,其通过第二敏感挠性梁与右移动质量块相连。与现有技术相比,本发明设计合理紧凑,可靠性好,检测精度高。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供