飞行时间型质量分析装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201180068055.0
IPC分类号：H01J49/40;G01N27/62;H01J49/06
申请日期：
2011-12-20
申请人：
国立大学法人神户大学;株式会社岛津制作所

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著录项信息

专利名称	飞行时间型质量分析装置
申请号	CN201180068055.0	申请日期	2011-12-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-30	公开/公告号	CN103380479A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/40 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/26 质谱仪或质量分离管〔3〕 H01J49/34 动态分光仪〔3〕 H01J49/40 飞行时间型分光仪（H01J 49/36优先）〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;4;0;;;G;0;1;N;2;7;/;6;2;;;H;0;1;J;4;9;/;0;6查看分类表>
申请人	国立大学法人神户大学;株式会社岛津制作所	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社岛津制作所	当前权利人	株式会社岛津制作所
发明人	绢川亨;古桥治
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新宇

摘要

说明双级式反射器的实施例。(1)设想由基极电位XA(U)的均匀电场构成的反射器，通过调整其设计参数来抵消飞行时间T(E)的E=E0时的一次微分和二次微分，求出电位值为E0的中心轴上的二次收敛位置(Mamyrin解)。(2)以二次收敛位置为起始点，计算与XA(U)叠加的校正电位XC(U)，使得在二次收敛位置的更深侧反射的离子的T(E)固定。(3)确定反射电极的电压值，使得在中心轴上形成实际电位XR(U)=XA(U)+XC(U)。如以上那样，以Mamyrin解的基极电位进行能量补偿到二次为止，但通过叠加校正电位而进一步将能量补偿扩展到无限的高次，对于在校正电位部反射的离子实现完全等时性。另外，在校正电位开始点的前后实际电位平滑地连接，偏离均匀电场的偏差最小，因此最大限度地抑制由离子轨迹的发散和轴偏离造成的时间像差。

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