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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

日照立面高度斜率尺

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202020760552.3
  • IPC分类号:G01C9/00;G01W1/12
  • 申请日期:
    2020-05-09
  • 申请人:
    上海天华崧易建筑设计有限公司
著录项信息
专利名称日照立面高度斜率尺
申请号CN202020760552.3申请日期2020-05-09
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C9/00IPC分类号G;0;1;C;9;/;0;0;;;G;0;1;W;1;/;1;2查看分类表>
申请人上海天华崧易建筑设计有限公司申请人地址
上海市青浦区赵巷镇嘉松中路5399号3幢B8-4F-D区201室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海天华崧易建筑设计有限公司当前权利人上海天华崧易建筑设计有限公司
发明人樊豪君;许仙桃
代理机构浙江永鼎律师事务所代理人陆永强;张建
摘要
本实用新型涉及一种日照立面高度斜率尺。它解决了现有的技术在测量前后相邻楼层的高度斜率时操作复杂且准确率不佳的问题,它包括棒影图板装置,棒影图板装置一侧设有水平距离图板,棒影图板装置一端与水平距离图板一端相互连接,棒影图板装置与水平距离图板相连的一端纵向设有第一建筑物,水平距离图板上设有与第一建筑物相互平行的第二建筑物,棒影图板装置与水平距离图板相连的一端通过螺钉转动设有可沿棒影图板装置周向外壁移动的指针装置,棒影图板装置一端设有与指针装置呈同轴设置的量角器,棒影图板装置另一端设有日照时间带机构,指针装置一端与日照时间带机构滑动相连。本实用新型的优点在于:测量数据准确且操作便捷。

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