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用于分析反射特性的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200780022930.5
IPC分类号：G01N21/47;G01N21/898;B23K26/00;G06T17/40
申请日期：
2007-04-24
申请人：
贝内克-凯利科股份公司

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于分析反射特性的方法
申请号	CN200780022930.5	申请日期	2007-04-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-07-01	公开/公告号	CN101473215
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/47 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/47 散射，即漫反射（G01N 21/25，G01N 21/41优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;7;;;G;0;1;N;2;1;/;8;9;8;;;B;2;3;K;2;6;/;0;0;;;G;0;6;T;1;7;/;4;0查看分类表>
申请人	贝内克-凯利科股份公司	申请人地址	德国汉诺威变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	贝内克-凯利科股份公司	当前权利人	贝内克-凯利科股份公司
发明人	奥利弗·施塔尔胡特;克里斯蒂安·诺伊曼;米夏埃尔·梅克
代理机构	北京天昊联合知识产权代理有限公司	代理人	陈源;张天舒

摘要

本发明涉及一种用于分析和描述三维结构的原始表面的反射特性的方法。根据所述方法，确定该原始表面的拓扑结构，将拓扑数据以一个深度图的形式存储在第一数据记录中，并且就所述数据对反射特性的影响进行评估。根据所述评估，每个表面元素被分配一个反射值并且将该值存储在第二数据记录中并使之可供其他加工或检测系统使用。

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