自动分析装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202080028798.4
IPC分类号：G01N35/00
申请日期：
2020-02-25
申请人：
株式会社日立高新技术

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	自动分析装置
申请号	CN202080028798.4	申请日期	2020-02-25
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-26	公开/公告号	CN113711052A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N35/00 不限于用G01N 1/00至G01N 33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	株式会社日立高新技术	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社日立高新技术	当前权利人	株式会社日立高新技术
发明人	横山洸几;大草武德
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	刘文海

摘要

本发明的目的在于提供对向磁分离部供给的试剂的温度高精度地进行控制的自动分析装置。因此，本发明是一种自动分析装置，其具备：磁分离部，其从使检体与第一试剂反应而成的液体中分离磁性成分与非磁性成分；贮存部，其收容第二试剂；以及配管，其向所述磁分离部供给所述第二试剂，所述自动分析装置具有对所述配管的周围进行温度调整的热交换器。期望的是，所述热交换器具备吸放热部以及吹送由所述吸放热部进行了热交换的空气的风扇，从所述风扇吹送的空气与所述配管触碰。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供