光学检测装置以及使用该装置的多通道试样分析器

发明专利无效专利

申请号：
CN200510099239.X
IPC分类号：G01N21/25;G01N21/01;G01N21/64
申请日期：
2005-09-07
申请人：
三星电子株式会社

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著录项信息

专利名称	光学检测装置以及使用该装置的多通道试样分析器
申请号	CN200510099239.X	申请日期	2005-09-07
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2006-03-15	公开/公告号	CN1746659
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;5;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1;;;G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	玉景植;金珍泰;吴光昱;金相孝
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	马高平;杨梧

摘要

本发明提供了一种能够利用光学检测器以不同波长高速测量多通道试样的光学检测装置以及一种使用该光学检测装置的多通道试样分析器。该光学检测装置包括一光学检测器；一具有彼此连接成盘状的至少两个滤色镜的滤光轮；多个光学通道，多个光束通过该多个光学通道进入所述滤光轮；以及一反射镜单元，其包括多个反射镜，用于顺序地将透过该滤光轮的多个光束反射到所述光学检测器，其中所述反射镜单元与所述滤光轮一起旋转。

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