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一种多轴检测电路板串扰特性的评估方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811006400.8
  • IPC分类号:G01P21/02
  • 申请日期:
    2018-08-30
  • 申请人:
    衡阳市衡山科学城科技创新研究院有限公司
著录项信息
专利名称一种多轴检测电路板串扰特性的评估方法及系统
申请号CN201811006400.8申请日期2018-08-30
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-12-21公开/公告号CN109061230A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P21/02IPC分类号G;0;1;P;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人衡阳市衡山科学城科技创新研究院有限公司申请人地址
湖南省衡阳市雁峰区岳屏镇东湖村十二组衡山科学城红树林研发创新区B3栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人衡阳市衡山科学城科技创新研究院有限公司当前权利人衡阳市衡山科学城科技创新研究院有限公司
发明人张春熹;李彦;孟照奎;郑月
代理机构深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)代理人隆毅
摘要
本发明提供一种多轴检测电路板串扰特性的评估方法及系统,该方法包括:在预设时间段内输出模拟阶梯波,模拟阶梯波在不同的时间周期内反应不同的模拟转速,在预设时间段内模拟转速变化的第一转速范围覆盖第二转速范围,第二转速范围为根据光纤角速度传感器的输入转速与待测量转速范围确定;将第一差分信号和第二差分信号进行叠加后,输出至Y波导,第一差分信号为模拟阶梯波经过差分运放后产生的差分信号,第二差分信号为多轴检测电路板的第一路数模转换器输出的信号经过差分运放后产生的差分信号,第一路数模转换器为闭环回路中的数模转换器;采集光纤角速度传感器的输出结果,计算输出结果中的死区范围。本发明提高了评估和改进的效率。

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