线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201611258512.3
IPC分类号：G01R35/00;G01R33/58
申请日期：
2012-12-18
申请人：
上海联影医疗科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置
申请号	CN201611258512.3	申请日期	2012-12-18
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-17	公开/公告号	CN106680752A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0;;;G;0;1;R;3;3;/;5;8查看分类表>
申请人	上海联影医疗科技有限公司	申请人地址	上海市嘉定区嘉定工业区城北路2258号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海联影医疗科技股份有限公司	当前权利人	上海联影医疗科技股份有限公司
发明人	阳昭衡
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种线圈测试方法及磁共振成像方法，所述线圈测试方法包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：ax*(A1‑A0)＝(Ax‑A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A1表示第二校正数据，N表示预定值。本技术方案提供的线圈测试方法，测试结果准确、效率高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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