芯片烧录测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720058827.7
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2017-01-17
申请人：
崇碁科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	芯片烧录测试设备
申请号	CN201720058827.7	申请日期	2017-01-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	崇碁科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北市内湖区堤顶大道2段411号1楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	崇碁科技股份有限公司	当前权利人	崇碁科技股份有限公司
发明人	林宗毅
代理机构	北京律诚同业知识产权代理有限公司	代理人	王玉双;祁建国

摘要

一种芯片烧录测试设备，其包括基座、载盘、探针板、放置架、驱动机构及主机装置。载盘可叠置在承载芯片的托盘上，并能在叠置后藉由同时翻转托盘与载盘而使多个芯片倒置在载盘之上。探针板安设于基座上，探针板包括多个探针。放置架设置于基座上，放置架用以提供载盘放置后对应探针板。驱动机构设置于基座上，用以移动探针板或载盘，以使倒置在载盘上的多个芯片的接脚接触探针。主机装置是与探针板电性连接，用以在芯片的接脚接触探针板的探针时，对多个芯片进行测试或数据烧录。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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