发光二极管检测方法及检测系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201310240514.X
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2013-06-18
申请人：
展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	发光二极管检测方法及检测系统
申请号	CN201310240514.X	申请日期	2013-06-18
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-12-24	公开/公告号	CN104236852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华街道办油松第十工业区东环二路二号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	展晶科技（深圳）有限公司,荣创能源科技股份有限公司	当前权利人	展晶科技（深圳）有限公司,荣创能源科技股份有限公司
发明人	黄哲瑄
代理机构	深圳市鼎言知识产权代理有限公司	代理人	徐丽昕

摘要

一种发光二极管检测方法，包括：检测发光二极管晶粒所发出的光线的频谱数据；检测荧光粉在受激发光后所发出的光线的频谱数据；根据发光二极管晶粒所发出的光线和荧光粉所发出光线的比例，计算发光二极管晶粒与荧光粉的合成光谱；将所计算的合成光谱与标准的或期望的频谱数据相比较，以确定计算的合成光谱是否在标准的或期望的频谱数据范围内；若计算的合成光谱不在标准的或期望的频谱数据范围内，则调整发光二极管所发出光线与荧光粉所发出光线的比例直至所计算的合成光谱位于标准的或期望的频谱数据范围内。本发明还提供了一种发光二极管检测系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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