一种用于轴径表面纹路检测结构

发明专利有效专利

申请号：
CN201910292103.2
IPC分类号：G01N33/00
申请日期：
2019-04-12
申请人：
无锡万奈特测量设备有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种用于轴径表面纹路检测结构
申请号	CN201910292103.2	申请日期	2019-04-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-23	公开/公告号	CN111812269A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N33/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N33/00 利用不包括在G01N 1/00至G01N 31/00组中的特殊方法来研究或分析材料	IPC分类号	G;0;1;N;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人	无锡万奈特测量设备有限公司	申请人地址	江苏省无锡市锡山经济开发区芙蓉中三路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	无锡万奈特测量设备有限公司	当前权利人	无锡万奈特测量设备有限公司
发明人	郑双飞
代理机构	无锡市朗高知识产权代理有限公司	代理人	赵华

摘要

本发明提供一种用于轴径表面纹路检测结构，包括固定顶尖座、伸缩顶尖座和工作台，固定顶尖座和伸缩顶尖座相对设置并安装在工作台上，工作台上位于固定顶尖座和伸缩顶尖座之间放置被测工件的位置上安装有工件支撑V型件，一对被测工件之间配置棉线及砝码用于测量。本发明结构简单，操作方便，顶尖可更换固定顶尖座，带有伺服电机驱动，可驱动旋转，并可调速、测速，伸缩顶尖座轴向长度可调，高度可微调。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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