一种用于极化方向测量的测试系统

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专利名称	一种用于极化方向测量的测试系统
申请号	CN200810118101.3	申请日期	2008-08-12
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-01-07	公开/公告号	CN101339217
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	苗俊刚;娄铮;刘海瑞
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种用于测量极化方向的测试系统。其主要包括以下内容：(1)测试系统的组成部分及各部分的结构和功能。(2)介绍测试方法。(3)介绍测试结果的处理方法。本发明采用准光技术，具有方便、快捷、高精度的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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