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时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610028749.6
  • IPC分类号:G01J9/00;G01J11/00
  • 申请日期:
    2016-01-15
  • 申请人:
    中国科学院上海光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法
申请号CN201610028749.6申请日期2016-01-15
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-06-08公开/公告号CN105651399A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J9/00IPC分类号G;0;1;J;9;/;0;0;;;G;0;1;J;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院上海光学精密机械研究所申请人地址
上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所当前权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人乔治;汪小超;姚玉东;井媛媛;范薇
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人张泽纯;张宁展
摘要
一种时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法,装置构成包括:沿待测激光脉冲输入方向是光纤分束器,该光纤分束器将待测激光脉冲分为强、弱两束光,沿强光束方向依次是可调光纤延时器、高速光纤相位调制器、色散光纤和示波器,沿弱光束方向依次是高速PIN光电管、任意波形发生器、电信号放大器,该电信号放大器的输出端接所述的高速光纤相位调制器的调制输入端。本发明利用全光纤结构对激光脉冲进行相位调制与色散传输,具有结构紧凑、简单灵活的特点,并且不同于其它激光脉冲相位测量方式,本发明可以测量具有弱相位的皮秒或者纳秒激光脉冲,适用于高重复频率以及低重复频率情况下。

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