用于形成PN结的方法以及相关联的半导体器件

发明专利有效专利

申请号：
CN201611054589.9
IPC分类号：H01L27/11517;H01L21/329;H01L21/266;H01L29/06;H01L29/861
申请日期：
2016-11-25
申请人：
意法半导体（鲁塞）公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于形成PN结的方法以及相关联的半导体器件
申请号	CN201611054589.9	申请日期	2016-11-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-12-08	公开/公告号	CN107452743A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L27/11517 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L27/00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件（其零部件入H01L 23/00，H01L 29/00至H01L 51/00；由多个单个固态器件组成的组装件入H01L 25/00）〔2，8〕 H01L27/02 包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的〔2〕 H01L27/04 其衬底为半导体的〔2〕 H01L27/10 在重复结构中包括有多个独立组件的〔2〕 H01L27/105 包含场效应组件的〔5〕 H01L27/112 只读存储器结构的〔5〕 H01L27/115 电动编程只读存储器；其多步骤制造方法〔5，2006.01，2017.01〕 H01L27/11517 具有浮栅的〔2017.01〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;1;7;;;H;0;1;L;2;1;/;3;2;9;;;H;0;1;L;2;1;/;2;6;6;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;9;/;8;6;1查看分类表>
申请人	意法半导体（鲁塞）公司	申请人地址	法国鲁塞变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	意法半导体（鲁塞）公司	当前权利人	意法半导体（鲁塞）公司
发明人	F·拉罗萨;S·尼埃尔;A·雷尼耶
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	王茂华

摘要

本发明的实施例涉及用于形成PN结的方法以及相关联的半导体器件。一种方法可用于制作半导体器件。多个突起区域形成在具有第一导电类型的第一半导体层上方。第一半导体层位于覆盖半导体衬底的绝缘层上。突起区域相互隔开。将突起区域用作注入掩模，具有第二导电类型的掺杂剂被注入第一半导体层中，以形成PN结的序列，PN结的序列在第一半导体层中形成二极管。二极管从第一半导体层的上表面垂直地延伸到绝缘层。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供