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一种高精度物理量测量装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202120792930.0
  • IPC分类号:G01D5/16
  • 申请日期:
    2021-04-19
  • 申请人:
    武汉大学
著录项信息
专利名称一种高精度物理量测量装置
申请号CN202120792930.0申请日期2021-04-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D5/16IPC分类号G;0;1;D;5;/;1;6查看分类表>
申请人武汉大学申请人地址
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉大学当前权利人武汉大学
发明人范辛晨;吕晨威;徐梓云;金伟正
代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人张火春
摘要
本实用新型提供一种高精度物理量测量装置,包括电压参考单元、恒流驱动单元、测量单元;所述电压参考单元的输出端与所述恒流驱动单元的输入端相连;所述测量单元包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻和放大器,所述第一电阻和所述第二电阻串联形成的串联电路两端分别与所述恒流驱动单元的第一输出端和第二输出端相连,所述第三电阻和所述第四电阻串联形成的串联电路两端分别与所述恒流驱动单元的第一输出端和第二输出端相连,所述第一电阻和所述第二电阻的连接点与所述放大器的正向输入端相连,所述第三电阻和所述第四电阻的连接点与所述放大器的反向输入端相连。本实用新型能精确测量待测物理量。

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