一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510101349.9
IPC分类号：G01N29/06
申请日期：
2015-03-06
申请人：
中国航空工业集团公司北京航空材料研究院

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法
申请号	CN201510101349.9	申请日期	2015-03-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-06-24	公开/公告号	CN104730145A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院	申请人地址	北京市海淀区北京81信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院	当前权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
发明人	王东升;唐佳;徐娜;史亦韦;王铮;何方成
代理机构	中国航空专利中心	代理人	陈宏林

摘要

本发明是一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法，该方法首先在水浸超声C扫描检测系统上建立基准位置并标定该基准位置在超声探头声束扫描位置坐标系中的坐标，然后通过被检材料上加工的定位基准面将被检材料安放于检测系统中的基准位置处并进行超声C扫描检测，接着利用检测系统的缺陷回找功能确定C扫描图像上各缺陷在超声探头声束扫描位置坐标系中的精确坐标，并将该坐标与检测系统中基准位置的坐标相减以求得缺陷相对于被检材料上定位基准面的精确坐标，最后，将缺陷相对于被检材料上定位基准面的坐标与从超声探伤单元上读取的缺陷相对于被检材料超声探测面的埋深相组合，构成缺陷在被检材料中的三维空间位置坐标。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供