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非金属基体表面涂层厚度检测装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201621139586.0
  • IPC分类号:G01B21/08
  • 申请日期:
    2016-10-20
  • 申请人:
    天津科技大学
著录项信息
专利名称非金属基体表面涂层厚度检测装置
申请号CN201621139586.0申请日期2016-10-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B21/08IPC分类号G;0;1;B;2;1;/;0;8查看分类表>
申请人天津科技大学申请人地址
天津市河西区大沽南路1038号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津科技大学当前权利人天津科技大学
发明人陈建平;周增瑞;梁湘鹏;闫传滨;赵海军;李瑞;杜厚栋;申振腾
代理机构天津市三利专利商标代理有限公司代理人闫俊芬
摘要
本实用新型公开了一种非金属基体表面涂层厚度检测装置,包括套筒,固定设置在套筒顶部的电机,设置在所述的套筒内并受所述的电机驱动上下移动的底座,固定设置在底座下端部的测量头,定位在测量头和底座间的压力传感器。本实用新型用于非金属基体表面涂层厚度检测,可测量毫米级别的涂层,测量精度可达0.1mm,具有检测周期短、检测装置便携、检测结果可靠性高等诸多优点,能实现涂层厚度的高效无损检测,对非金属基体涂层厚度检测技术的发展具有推动作用。而且本实用新型装置的设计成本低,在实际检测工作中的工序少,可降低工作人员的劳动强度,提高检测工作的安全性,具有良好的推广和应用价值。

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