大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210379799.0
IPC分类号：G01B5/20;G01B5/25
申请日期：
2012-10-09
申请人：
首都航天机械公司;中国运载火箭技术研究院

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著录项信息

专利名称	大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法
申请号	CN201210379799.0	申请日期	2012-10-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-09	公开/公告号	CN103712545A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/20 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;2;0;;;G;0;1;B;5;/;2;5查看分类表>
申请人	首都航天机械公司;中国运载火箭技术研究院	申请人地址	北京市丰台区南大红门路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院	当前权利人	首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院
发明人	杨烨;章茂云;王学明;刘琦
代理机构	核工业专利中心	代理人	高尚梅;刘昕宇

摘要

本发明属于控制测量方法，具体涉及大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法。它包括：步骤一：计算，步骤二：铆接装配型架结构优化，在铆接装配型架平台上增加定位压紧附件，以保证在上架装配前端框时，对接分离面处两框段齐平，减少铆接应力影响，所述的定位压紧的位置就是步骤一计算得到的位置，步骤三：设置装配定位孔，在前端框象限缺口以及对接处各增加一个定位装配定位孔，步骤四：测量，步骤五：检验。本发明显著的有益效果是：以上技术有效的控制了一级尾段壳体圆度变形，成功的将圆度控制在了总装使用要求的3.5mm范围内。数字化测量：通过现场测试验证及后续研制产品使用，提高测量效率30％以上。测量误差控制在±0.05mm以内。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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