一种等离子体固样分析发射光谱仪

发明专利有效专利

申请号：
CN202010780834.4
IPC分类号：G01N21/73;H01J49/16;H01J49/10
申请日期：
2020-08-06
申请人：
成都西奇仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	一种等离子体固样分析发射光谱仪
申请号	CN202010780834.4	申请日期	2020-08-06
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-17	公开/公告号	CN111948193A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/73 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/71 热激发的〔3〕 G01N21/73 用等离子体喷嘴或吹管〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;7;3;;;H;0;1;J;4;9;/;1;6;;;H;0;1;J;4;9;/;1;0查看分类表>
申请人	成都西奇仪器有限公司	申请人地址	四川省成都市彭州工业开发区五贤路453号4栋1-2层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都西奇仪器有限公司	当前权利人	成都西奇仪器有限公司
发明人	段忆翔;代渐雄;杨燕婷
代理机构	成都其高专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种等离子体固样分析发射光谱仪，包括气路系统、激发源装置、固体样品直接引入装置（11）、收光装置及上位机，所述气路系统连接激发源装置，收光装置与上位机相连接；所述固体样品直接引入装置（11）用于放置固体样品（10），且激发源装置能够释放等离子体射流（18）至固体样品（10）上，等离子体射流（18）与固体样品（10）表面作用时能够形成发射光（17）并被收光装置所接收；克服现有技术的不足之处，在进行固样分析时，无需对样品进行复杂的消解处理过程，大大降低了操作过程的繁琐程度；同时，避免了酸、碱等化学试剂的使用，不会对环境造成污染。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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