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一种清洁晶圆及等离子体处理装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202120679182.5
  • IPC分类号:H01J37/32;B08B13/00;B08B7/00;B08B5/02
  • 申请日期:
    2021-04-02
  • 申请人:
    中微半导体设备(上海)股份有限公司
著录项信息
专利名称一种清洁晶圆及等离子体处理装置
申请号CN202120679182.5申请日期2021-04-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/32IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;3;2;;;B;0;8;B;1;3;/;0;0;;;B;0;8;B;7;/;0;0;;;B;0;8;B;5;/;0;2查看分类表>
申请人中微半导体设备(上海)股份有限公司申请人地址
上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中微半导体设备(上海)股份有限公司当前权利人中微半导体设备(上海)股份有限公司
发明人周艳;杨宽
代理机构上海元好知识产权代理有限公司代理人徐雯琼;张静洁
摘要
本实用新型公开了一种清洁晶圆,一种等离子体处理装置及处理方法,包括一反应腔,所述反应腔包括:进气装置,用于向所述反应腔输送清洁气体;射频电源,用于将所述清洁气体解离为清洁等离子体;清洁晶圆;静电吸盘,用于承载所述清洁晶圆,清洁晶圆与静电吸盘之间设置一支撑装置,所述支撑装置使得清洁晶圆背面与静电吸盘表面之间形成一定高度,进而使得清洁晶圆边缘区域的背面与聚焦环的上表面形成一定缝隙,避免对聚焦环上表面和聚焦环与静电吸盘之间的缝隙造成遮挡,使得清洁等离子体能有效清除聚焦环第二上表面和缝隙内的沉积物。保证等离子体处理装置处理晶圆的均一性,同时降低沉积物可能导致的电弧放电现象,提高设备的稳定性。

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