扩展形态学与正交子空间投影结合的端元自动提取方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910078442.7
IPC分类号：G01J3/00
申请日期：
2009-02-23
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	扩展形态学与正交子空间投影结合的端元自动提取方法
申请号	CN200910078442.7	申请日期	2009-02-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-08-12	公开/公告号	CN101504315
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	赵慧洁;李娜;蔡辉;贾国瑞;徐州
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华

摘要

一种扩展形态学与正交子空间投影结合的端元自动提取方法，步骤如下：(1)高光谱数据读入；(2)确定结构元素尺寸、初始与最大迭代次数；(3)由扩展膨胀、腐蚀操作计算结构元素邻域内混合度最低和最高的像元；(4)由步骤(3)得到的结果计算得到形态离心率指数值；(5)步骤(3)、(4)随迭代次数的增加不断重复，并利用步骤(3)扩展膨胀操作结果更新图像数据，直到达到最大迭代次数；(6)二值化MEI图像，得到端元数据集；(7)采用光谱角匹配方法计算得到第一个端元，并向得到端元的正交子空间投影更新端元数据集；(8)重复步骤(7)，直到满足误差要求。该方法是一种稳定性强、可靠性高、精确度高的高光谱端元自动提取方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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