一种老化测试板及其老化测试架

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202022605861.6
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04;H05K7/20
申请日期：
2020-11-12
申请人：
苏州隆久机电有限公司

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著录项信息

专利名称	一种老化测试板及其老化测试架
申请号	CN202022605861.6	申请日期	2020-11-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;H;0;5;K;7;/;2;0查看分类表>
申请人	苏州隆久机电有限公司	申请人地址	江苏省苏州市吴中区木渎镇花苑东路88号4幢202室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州隆久机电有限公司	当前权利人	苏州隆久机电有限公司
发明人	郑伟;陈宁宾
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种老化测试板及其老化测试架，包括老化测试板体和定位凹槽，所述老化测试板体的前表面设置有控温板体，且控温板体的外侧设置有插口组，所述老化测试板体的内侧开设有散热口，且老化测试板体的左右两侧均开设有定位滑块，所述定位凹槽开设于定位滑块的外侧上端，且定位凹槽的内部设置有固定卡块，所述固定卡块的上端连接有定位转轴，且固定卡块的外侧固定有限位杆，所述限位杆的外侧设置有测试架体，且测试架体的下端固定有支撑柱。该老化测试板及其老化测试架通过设置的散热口能够使得老化测试板体具有良好的散热效果，避免控温板体工作时释放热量较多而坏损，并且设置的防水透气膜可以避免使用时灰尘进入散热口内。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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