一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201220074501.0
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2012-03-01
申请人：
纳优科技（北京）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪
申请号	CN201220074501.0	申请日期	2012-03-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	纳优科技（北京）有限公司	申请人地址	北京市朝阳区朝阳路67号院8#楼1单元1201室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	纳优科技（北京）有限公司	当前权利人	纳优科技（北京）有限公司
发明人	杨李锋;张峰;刘铎
代理机构	北京尚诚知识产权代理有限公司	代理人	鲁兵

摘要

本实用新型涉及一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其中样品仓组件组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。本实用新型可以对置于在较大空间内的物品进行全方位的测定分析，测量时间短，准确度高，对安检、在线质量监控等领域的检测特别适用。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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