一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201611148051.4
IPC分类号：G01N3/08;G01N3/06
申请日期：
2016-12-13
申请人：
西安科技大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法
申请号	CN201611148051.4	申请日期	2016-12-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-04-26	公开/公告号	CN106596265A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/08 施加稳定的张力或压力（G01N 3/28优先）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;8;;;G;0;1;N;3;/;0;6查看分类表>
申请人	西安科技大学	申请人地址	陕西省西安市雁塔区雁塔中路58号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安科技大学	当前权利人	西安科技大学
发明人	郭长立;冯小强;韩湖斌
代理机构	西安弘理专利事务所	代理人	成丹

摘要

本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的体积模量K。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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