I2C接口器件测试方法、装置及I2C接口器件

发明专利有效专利

申请号：
CN202010401397.0
IPC分类号：G01R31/3183;G01R31/317
申请日期：
2020-05-13
申请人：
圣邦微电子（北京）股份有限公司

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著录项信息

专利名称	I2C接口器件测试方法、装置及I2C接口器件
申请号	CN202010401397.0	申请日期	2020-05-13
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-19	公开/公告号	CN113671360A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3183 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3183 测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;3;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	圣邦微电子（北京）股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	圣邦微电子（北京）股份有限公司	当前权利人	圣邦微电子（北京）股份有限公司
发明人	张波
代理机构	北京成创同维知识产权代理有限公司	代理人	杨思雨

摘要

本发明公开了一种I2C接口器件测试方法、装置及I2C接口器件，所述方法包括：使所述I2C接口器件产生测试使能信号；基于所述测试使能信号屏蔽所述I2C接口器件输出至所述至少一个功能模块的信号；基于所述测试使能信号屏蔽所述至少一个功能模块输出至所述I2C接口器件的信号，并使所述I2C接口器件根据预设的至少一位测试逻辑值产生测试信号；基于所述测试信号对所述I2C接口器件进行测试。本公开无需其他功能模块动作，即可快速的进行I2C接口器件的测试，提高了测试覆盖率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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