用于重新校准坐标定位设备的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201180032328.6
IPC分类号：G01B21/04
申请日期：
2011-07-05
申请人：
瑞尼斯豪公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于重新校准坐标定位设备的方法
申请号	CN201180032328.6	申请日期	2011-07-05
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-03-13	公开/公告号	CN102971605A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/04 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;4查看分类表>
申请人	瑞尼斯豪公司	申请人地址	英国格洛斯特郡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	瑞尼斯豪公司	当前权利人	瑞尼斯豪公司
发明人	利奥·克里斯托弗·萨默维尔
代理机构	北京明和龙知识产权代理有限公司	代理人	张晓红

摘要

描述了一种方法,用于在诸如触针更换等干扰之后重新校准坐标定位设备（2）。所述坐标定位设备包括平台（8）、测量探针（12）以及用于相对于所述平台（8）重新确定测量探针（12）的方位的探针头（10）。对于坐标定位设备（2）获得校准数据组，包括对于测量探针的多个方位的基准数据。所述基准数据至少包括对于测量探针的第一名义方位的第一基准数据。在对坐标定位设备（2）的干扰之后，通过获得一个或多个位置测量值并且从所述一个或多个位置测量值计算第一校正而更新所述校准数据组。所述第一校正描述了在干扰之后第一基准数据的任何变化并且被用来更新对于测量探针（12）的多个不同方位的基准数据。还描述了相应的设备。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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