一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201810491818.6
IPC分类号：G01J3/02
申请日期：
2018-05-22
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置
申请号	CN201810491818.6	申请日期	2018-05-22
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-06	公开/公告号	CN108760047A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	张子辉;王淑荣;黄煜;杨小虎;李占峰
代理机构	深圳市科进知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	曹卫良

摘要

本发明提供光电探测系统大动态范围响应线性测量装置。利用离轴抛反射镜作为准直镜，达到更好的准直效果；采用二次成像结构，有效的抑制了杂光，使其杂光抑制能够优于10‑9；通过切换三个滤光片轮使该装置输出能量的动态范围达到108；整个系统可以采用反射镜，合束器采用熔石英基底点阵分光器，有效光谱范围达到200nm‑2500nm；光源出光直接分束准直，并且在光源后侧利用反射镜聚光，使像面照度强于太阳在地表的辐照度；利用标准探测器对光源进行实时监测，对装置输出能量进行二次修正，进一步提高测量精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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