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带垫层的薄型温度熔断器的制造工艺

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110027599.4
  • IPC分类号:H01H69/02
  • 申请日期:
    2011-01-26
  • 申请人:
    上海长园维安电子线路保护股份有限公司
著录项信息
专利名称带垫层的薄型温度熔断器的制造工艺
申请号CN201110027599.4申请日期2011-01-26
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2011-07-20公开/公告号CN102129936A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01H69/02IPC分类号H;0;1;H;6;9;/;0;2查看分类表>
申请人上海长园维安电子线路保护股份有限公司申请人地址
上海市虹口区柳营路125号8楼806 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海维安电子有限公司当前权利人上海维安电子有限公司
发明人张子川;钱朝勇;沈海波;杨彬
代理机构上海东亚专利商标代理有限公司代理人董梅
摘要
本发明涉及一种带垫层结构的薄型温度熔断器的制造工艺,带垫层结构的薄型温度熔断器包括一对金属引脚,金属引脚相对呈直线排列且端部间留有间距,且在间距部设有垫层,在金属引脚端部的下方设有下载带,该垫层将两端部相互横向阻隔,且将熔芯与下载带之间相互纵向阻隔,两端部之间由熔芯焊接相连,在熔芯上涂刷有助熔剂,上载带从上方覆盖,上载带与下载带形成一密闭空间,将金属引脚端部、熔芯以及助熔剂密封于该密闭空间的内部,其中,所述的熔芯是从背面焊接在引脚上。优点是:本发明通过背面焊接来保护熔芯,克服了目前合金正面焊接中形貌上破坏、氧化层加重、熔芯内部普遍有二次结晶并伴随晶体长大的缺陷,极大的减少因熔芯过度焊接受热而引起的熔断温度非正常上升。

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