研究压阻行为的准等静压方法及其装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200510061499.8
IPC分类号：G01R27/00G01R29/00G01R29/22
申请日期：
2005-11-09
申请人：
浙江大学

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著录项信息

专利名称	研究压阻行为的准等静压方法及其装置
申请号	CN200510061499.8	申请日期	2005-11-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-05-17	公开/公告号	CN1773296
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置	IPC分类号	G01R27/00;G01R29/00;G01R29/22查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市西湖区浙大路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	郑强;周剑锋;徐文武;宋义虎;朱姝
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	韩介梅

摘要

本发明公开了研究压阻行为的准等静压方法及其装置，采用对试样施加单轴压力，限制试样横向变形，测试试样的电阻随单轴压力的变化情况。实施本发明方法的装置包括管件，在管件的内壁设有绝缘层，管件中置有上、下顶杆和两片分别用于与试样两端面接触的电极，电极引出线与数字万用表相连。采用本发明可以考察单次加载、循环加载、蠕变及应力松弛条件下材料电阻的变化，从而研究聚合物基导电复合材料的循环压阻行为、电阻蠕变行为、压致渗流行为及压力大小和加压速率对压阻行为和渗流行为的影响。

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