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一种基于YOLOv3改进模型的用于检测PCB中圆形目标的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011179554.4
  • IPC分类号:G06K9/32;G06K9/62
  • 申请日期:
    2020-10-29
  • 申请人:
    南京大量数控科技有限公司
著录项信息
专利名称一种基于YOLOv3改进模型的用于检测PCB中圆形目标的方法
申请号CN202011179554.4申请日期2020-10-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-11-27公开/公告号CN112001388A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K9/32IPC分类号G;0;6;K;9;/;3;2;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人南京大量数控科技有限公司申请人地址
江苏省南京市六合区雄州街道骁骑路1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京大量数控科技有限公司当前权利人南京大量数控科技有限公司
发明人贺建安;黄嘉泽
代理机构南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本发明公开了一种基于YOLOv3改进模型的用于检测PCB中圆形目标的方法,首先对获取的印制电路板的X射线图像进行标注和数据集划分;然后利用设定的圆形anchor替换YOLOv3模型中的矩形anchor,使YOLOv3改进模型可以直接预测圆形目标的边界,接着对损失函数进行修改;其次,对所述YOLOv3改进模型进行迭代优化和验证,并基于非极大值抑制算法对三个检测层所有预测的圆形目标中低置信度的以及重叠较大的目标进行过滤,输出检测结果,相比于传统的圆形目标检测方法,本发明的精确性与鲁棒性更好;改进后的模型与原模型相比参数更少,速度更快且误检率更低。

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