测试架构及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010466525.X
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2020-05-28
申请人：
仁宝电脑工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	测试架构及其测试方法
申请号	CN202010466525.X	申请日期	2020-05-28
法律状态	公开	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-12-03	公开/公告号	CN113740627A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	仁宝电脑工业股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	仁宝电脑工业股份有限公司	当前权利人	仁宝电脑工业股份有限公司
发明人	郭建文
代理机构	隆天知识产权代理有限公司	代理人	黄艳;郑特强

摘要

本公开是提供一种测试架构及其测试方法，测试架构包含待测电器装置、测试治具及控制系统，且待测电器装置的待测插头上具有标记待测电器装置的电源规格的条码，故于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的顶针相接触时，控制系统根据扫描信号将适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头以对待测电器装置进行测试，故测试架构仅需设置单一的测试治具，测试治具根据条码而提供对应的电源，以测试具有相异规格的待测插头的多个相异的待测电器装置，以降低生产及人力成本，且待测电器装置的电器特性不易损毁。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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