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一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110668746.X
  • IPC分类号:G01M10/00
  • 申请日期:
    2021-06-16
  • 申请人:
    北京化工大学
著录项信息
专利名称一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法
申请号CN202110668746.X申请日期2021-06-16
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2021-09-17公开/公告号CN113405768A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M10/00IPC分类号G;0;1;M;1;0;/;0;0查看分类表>
申请人北京化工大学申请人地址
北京市朝阳区北三环东路15号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京化工大学当前权利人北京化工大学
发明人张锋华;孙乐;靳诺;崔燕;蒲子昂;丁玉梅;杨卫民
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开一种基于纳米气泡技术的气流场PIV示踪粒子制备装置及方法,其装置包括干燥腔、管路阀门、风机、高压氦气/氢气瓶、纳米气泡发生器、温度传感器、超声雾化装置、干燥管和热风机;高压氦气/氢气瓶通过纳米气泡发生器的进气口持续提供气源,同时通过纳米气泡发生器的进水口供水,进而生成氦气/氢气纳米气泡溶液,再通过超声雾化装置进行雾化,喷入干燥腔中,雾化形成的小液滴在干燥气体环境中下落,形成的液滴在风机的作用下持续输送至气流场测试段。本发明的小液滴具有良好流场跟随性,内部大量纳米级空穴增强了对光的反射,使示踪粒子具有良好的光散射特性,完成实验后,将温度升高,由水生成的小液滴会升华和蒸发,不会污染实验环境。

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