波长色散型荧光X射线分析装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201780059601.1
IPC分类号：G01N23/223;G01N23/207
申请日期：
2017-08-31
申请人：
株式会社理学

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著录项信息

专利名称	波长色散型荧光X射线分析装置
申请号	CN201780059601.1	申请日期	2017-08-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-05-21	公开/公告号	CN109791116A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;7查看分类表>
申请人	株式会社理学	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社理学	当前权利人	株式会社理学
发明人	加藤秀一;山田隆;片冈由行
代理机构	北京三幸商标专利事务所（普通合伙）	代理人	刘卓然

摘要

一种波长色散型荧光X射线分析装置，包括单一的一维检测器(10)，该一维检测器(10)具有呈直线状排列的多个检测元件(7)，该波长色散型荧光X射线分析装置包括检测器位置变更机构(11)，该检测器位置变更机构(11)用于针对一维检测器(10)的位置，设定在检测元件(7)的排列方向与分光元件(6)中的分光角度方向平行的平行位置和与该分光元件(6)中的分光角度方向相交叉的交叉位置中的任意者，在平行位置，一维检测器(10)的感光面位于汇聚二次X射线(42)的焦点处，在交叉位置，感光狭缝(9)设置于汇聚二次X射线(42)的焦点处，一维检测器(10)的感光面位于感光狭缝(9)的与分光元件(6)离开的汇聚二次X射线(42)的行进方向侧。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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