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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

半导体装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201680041214.0
  • IPC分类号:H01L23/48;H01L23/36;H05K7/20
  • 申请日期:
    2016-07-04
  • 申请人:
    松下知识产权经营株式会社
著录项信息
专利名称半导体装置
申请号CN201680041214.0申请日期2016-07-04
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-03-27公开/公告号CN107851631A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/48IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;4;8;;;H;0;1;L;2;3;/;3;6;;;H;0;5;K;7;/;2;0查看分类表>
申请人松下知识产权经营株式会社申请人地址
日本国大阪府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人松下知识产权经营株式会社当前权利人松下知识产权经营株式会社
发明人好田慎一;木村润一;臼井良辅;小仓智英;渡边厚司
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人李国华
摘要
具有安装在金属层的所述半导体元件、设置在半导体元件的第一~第三连接端子、与所述第一连接端子接合的第一汇流条、以及与所述第二连接端子接合的第二汇流条。所述半导体元件与金属层接合,在所述半导体元件的上表面配置所述第一~第三连接端子。所述第一汇流条的一端与所述第一连接端子接合,所述第一汇流条的另一端是输出部,所述第二汇流条的一端与所述第二连接端子接合,所述第二汇流条的另一端与所述金属层接合。所述半导体元件的所述第一面与所述第二汇流条是相同电位。

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