一种电场作用下X射线测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201621121368.4
IPC分类号：G01N23/20
申请日期：
2016-10-13
申请人：
黑龙江科技大学

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著录项信息

专利名称	一种电场作用下X射线测试装置
申请号	CN201621121368.4	申请日期	2016-10-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0查看分类表>
申请人	黑龙江科技大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市松北区浦源路2468号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	黑龙江科技大学	当前权利人	黑龙江科技大学
发明人	刘晓旭;殷景华;冯文博;李彦鹏
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	李红媛

摘要

一种电场作用下X射线测试装置，它涉及一种X射线测试装置。本实用新型的目的是要解决现有材料的X射线散射或衍射的测试一般在常温常压下获得信息，不能了解材料随电场变化的结构信息演化，对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用受到限制的问题。装置包括上底板、下底板、上电极板、下电极板、电极板弹簧、底板定位柱、第一电极板连线、第二电极板连线、永磁铁和电源。五、本实用新型专利设计了一种新型涉及电场作用下X射线测试装置设计，可实现在不同的电场下进行X射线测试，可在普通的X射线衍射仪上使用，亦可以在国家大型装置同步辐射X射线装置上使用。本实用新型可获得一种电场作用下X射线测试装置。

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