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一种FPGA电路测试方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201910458802.X
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/317
申请日期：
2019-05-29
申请人：
深圳市紫光同创电子有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种FPGA电路测试方法和装置
申请号	CN201910458802.X	申请日期	2019-05-29
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2019-10-08	公开/公告号	CN110308380A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	深圳市紫光同创电子有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新科技产业园南区科技南八道豪威科技大厦16层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市紫光同创电子有限公司	当前权利人	深圳市紫光同创电子有限公司
发明人	蒋义冠
代理机构	深圳鼎合诚知识产权代理有限公司	代理人	李发兵

摘要

本发明实施例提供的一种FPGA电路测试方法和装置，提取待测电路模型；将待测电路配置为至少一个测试电路；根据确定的故障模型，确定输入激励的序列；确定各配置的测试电路的覆盖情况。从而根据待测电路模型确定了测试电路并基于故障模型输入激励，得到故障覆盖情况，成功的实现了对FPGA电路的测试，提升了测试效率。

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