一种用于转台六项几何误差测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710861769.6
IPC分类号：G01B11/02;G01B11/26
申请日期：
2017-09-21
申请人：
北京工业大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种用于转台六项几何误差测量方法
申请号	CN201710861769.6	申请日期	2017-09-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-12-19	公开/公告号	CN107490343A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	石照耀;宋辉旭;陈洪芳;孙衍强
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	沈波

摘要

本发明公开了一种用于转台六项几何误差高效测量方法，该方法利用一个十二面棱镜，两个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个角度量误差(EAC，EBC，ECC)；利用一个标准球，一个激光干涉仪，一个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个位移量误差(EXC，EYC，EZC)。在测量的过程中，测量装置同轴地固定在转台上，并且在转台的一次全周回转运动中，该测量方法能够将转台的六项几何误差一次性测量出来。本发明提供的转台六项几何误差高效测量方法能够有效地提高转台几何误差的测量效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供